オガワ タケシ
OGAWA Takeshi
小川 健 所属 専修大学 経済学部 専修大学大学院 経済学研究科 職種 教授 |
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項目区分 | 教育に関する発表 |
期間 | 2017/03/17 |
事項 | (再掲)スキャナで読めるマークシートを活用した小テスト通過型単位認定方式 |
概要 | 以下の内容を情報処理学会 第79回全国大会にて報告。 本報告では,スキャナで読めるマークシートを活用した小テスト通過型の単位認定方式を報告する。多くの大学で定期試験での成績不良による再試は,無条件には許されていない。その一方で,できるまで繰り返しやり直せる可能性,採点の速度,公平性は3つともあるべき項目である。これらを考えた際,近年登場してきたスキャナで読めるマークシートを活用して小テスト通過を単位認定のハードルに課す方法も,単位の実質化と学生の達成感の両立の上では1つの選択肢になるべきであろう。 教材種別:その他 単独・共同区分:単独 代表者氏名:小川健(OGAWA, Takeshi) 主たる利用者:経済学教育に携わる大学教員 |