オガワ　タケシ   OGAWA Takeshi   小川 健    所属   専修大学  経済学部    専修大学大学院  経済学研究科    職種   教授
発表年月日	2017/03
発表テーマ	スキャナで読めるマークシートを活用した小テスト通過型単位認定方式
会議名	情報処理学会第79回全国大会
主催者	情報処理学会
学会区分	全国学会
開催地名	名古屋大学(愛知県・名古屋市)
概要	概要 本報告では,スキャナで読めるマークシートを活用した小テスト通過型の単位認定方式を報告する。多くの大学で定期試験での成績不良による再試は,無条件には許されていない。その一方で,できるまで繰り返しやり直せる可能性,採点の速度,公平性は3つともあるべき項目である。これらを考えた際,近年登場してきたスキャナで読めるマークシートを活用して小テスト通過を単位認定のハードルに課す方法も,単位の実質化と学生の達成感の両立の上では1つの選択肢になるべきであろう。 要旨集発刊年月201703